著錄信息
- 專利名稱：一種粉體金屬電阻率測量裝置
- 專利類型：發(fā)明
- 申請?zhí)枺?/em>CN200610063069.4
- 公開(公告)號：CN100516855C
- 申請日：20061013
- 公開(公告)日：20090722
- 申請人：深圳大學,深圳市中金嶺南有色金屬股份有限公司
- 發(fā)明人：郭金川,王國華,周彬,李清湘,李夏林,劉偵德,牛憨笨
- 申請人地址：518060廣東省深圳市南山區(qū)南海大道3688號
- 申請人區(qū)域代碼：CN440305
- 專利權人：深圳大學,深圳市中金嶺南有色金屬股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01N27/04,G01N27/02
- 優(yōu)先權：無
- 專利代理機構：深圳市智科友專利商標事務所
- 代理人：曲家彬
- 審查員：陳永暉
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
滑塊,測試裝置,底座,測量樣品,測量裝置,體積變化,樣品材料,電極,微位移,粉體,直尺,電阻率測量裝置,電阻測量儀器,位移傳感器,液晶顯示屏,測量方法,密度變化,電阻率,金屬電,伸縮桿,壓力計,金屬,連接,固定
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